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芯片设计中的可测试设计技术

 发布时间：2020-07-06
在测试中.目的是要尽快确定芯片是否以较高的稳定性正常工作.而不是绝对的稳定性.现在芯片设计团队普遍认识到.这需要在芯片上添加DFT(可测试设计)电路.第三方工具和IP (知识产权)企业可帮助实现此目标.而调试则 ...<全部>
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