自动测试设备-EDA365

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IC测试基本原理与ATE测试向量生成

发布时间：2024-03-12

集成电路测试(IC测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开.保证产品的质量与可靠性.随着集成电路的飞速发展.其规模越来越大.对电路的质量与可靠性要求进一步提高.集成电路的测试方法也变得越来越困 ...<全部>

测试测量应用

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Teledyne e2v 推出新多通道ADC.支持高达6.4GSps的转换速率

发布时间：2021-06-17

Teledyne e2v致力于不断提升产品性能.近日更推出了12位四通道模数转换器(ADC)--EV12AQ605. ...<全部>

测量测试

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干簧管传感器与霍尔效应传感器的比较

发布时间：2020-05-26

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工业自动化

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