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关于存储元件中软误差率的讨论

 发布时间：2023-11-02
软误差率(SER)问题是于上个世纪70年代后期作为一项存储器数据课题而受到人们的广泛关注的.当时DRAM开始呈现出随机故障的征兆.随着工艺几何尺寸的不断缩小.引起失调所需的临界电荷的减少速度要比存储单元中的电荷 ...<全部>
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存储器数据的软误差率(SER)问题

 发布时间：2020-06-09
软误差率(SER)问题是于上个世纪70年代后期作为一项存储器数据课题而受到人们的广泛关注的.当时DRAM开始呈现出随机故障的征兆.随着工艺几何尺寸的不断缩小.引起失调所需的临界电荷的减少速度要比存储单元中的电荷 ...<全部>
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