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我国博士研究生获电子器件可靠性欧洲研讨会最佳论文奖

 发布时间：2020-05-25
第26届电子器件可靠性和失效分析欧洲研讨会日前在法国举行.这是集成电路和电子器件可靠性领域规模最大.影响最广的国际会议之一.云集了世界各国微电子领域的顶级专家和学者.我国博士研究生刘太智凭借其论文获得了 ...<全部>
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