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SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法

 发布时间：2020-06-23
本文基于MBIST的一般测试方法来对多片SRAM的可测试设计进行优化.提出了一种通过一个MBIST控制逻辑来实现多片SRAM的MBIST测试的优化方法. 1 MBIST介绍 MBIST意即存储器内建自测试(Memory Build In Self Test) ...<全部>
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