dft-EDA365

研发资源 > 标签 > dft

|相关技术

查看更多 >>

fpga/asic设计入门知识数字电路设计的任务是什么

发布时间：2024-09-14

首先要知道自己在干什么?数字电路(fpga/asic)设计就是逻辑电路的实现.这样子说太窄了.因为asic还有不少是模拟的.呵呵.我们这里只讨论数字电路设计.实际上就是如何把我们从课堂上学到的逻辑电路使用原理图( ...<全部>

可编程逻辑

|

92

如何使用 DFT App 进行硬件仿真

发布时间：2021-08-11

几年前.笔者在自动测试设备 (ATE) 领导者 Teradyne 工作时.经常会碰到一个根本性的两难抉择:在生产/测试车间.是通过一件不合格的器件比较好.还是剔除一件合格器件比较好?显然.这两个都不是很好的选择.如果您 ...<全部>

放大器-比较器-模拟开关

|

129

芯片的可测性设计DFT

发布时间：2021-08-10

有些设计师有时会忽略设计出来的芯片是否能够顺利的被制造出来应用到产品中.他们往往更关注指标是否达到.先考虑设计再考虑测试.但随着电路复杂程度的提高.这种方法既费时又费力.并且往往造成制造过程中的一些不可预见的测试问题. ...<全部>

技术百科

|

50

如何使用DFT App进行硬件加速仿真设计

发布时间：2021-07-14

可测试性设计 (DFT) 在市场上所有的电子设计自动化(EDA) 工具中是最不被重视的.纵然在设计阶段提高芯片的可测试性将会大幅缩减高昂的测试成本.也是如此.最近的分析数据表明.在制造完成后测试芯片是否存在制 ...<全部>

PCB设计

|

dft
eda

184

DFT的计算量

发布时间：2020-06-29

离散傅里叶变换在实际应用中是非常重要的.利用它可以计算信号的频谱.功率谱和线性卷积等.但是.如果使用定义式(3.20)来直接计算DFT.当N很大时.即使使用高速计算机.所花的时间也太多.因此.如何提高计算DFT的 ...<全部>

嵌入式开发

|

dft
计算

199

SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法

发布时间：2020-06-23

本文基于MBIST的一般测试方法来对多片SRAM的可测试设计进行优化.提出了一种通过一个MBIST控制逻辑来实现多片SRAM的MBIST测试的优化方法. 1 MBIST介绍 MBIST意即存储器内建自测试(Memory Build In Self Test) ...<全部>

集成电路

|

182

基于单片机的DTMF信号的译码算法的实现

发布时间：2020-06-23

1. 引言DTMF信号首先用于电话的拨号系统.在频率编码遥控系统及数据编码传输中的应用也很普遍.目前的DTMF译码器中.大多采用通用集成器件(单音译码电路和组合门电路)或专用DTMF信号译码集成电路(如MC145436等) ...<全部>

嵌入式开发

|

154

硬盘数据保护技术

发布时间：2020-06-19

硬盘容量越做越大.我们在硬盘里存放的数据也越来越多.那么.这么大量的数据存放在这样一个铁盒子里究竟有多安全呢?虽然.目前的大多数硬盘的无故障运行时间(MTBF)已达300.000 小时以上.但这仍不够.一次故障 ...<全部>

技术百科

|

dft
硬盘

114

基于FPGA的FFT处理器设计

发布时间：2020-06-18

1 引言随着数字技术的快速发展.数字信号处理已深入到条个领域.在数字信号处理中.许多算法如相关.滤波.谱估计.卷积等都可通过转化为离散傅立叶变换(DFT)实现.从而为离散信号分析从理论上提供了变换工具.但DFT ...<全部>

嵌入式开发

|

70

基于FPGA的高速流水线FFT算法实现

发布时间：2020-06-18

0 引言有限长序列的DFT(离散傅里叶变换)特点是能够将频域的数据离散化成有限长的序列.但由于DYT本身运算量相当大.限制了它的实际应用.FFT(快速傅里叶变换)算法是作为DFT的快速算法提出.它将长序列的DFT分解为短 ...<全部>

嵌入式开发

|

153

上一个下一个

一颗引发行业变革的红外芯片

一颗引发行业变革的红外芯片

|相关标签

|热门文章

基于FPGA的FFT处理器设计

基于单片机的DTMF信号的译码算法的实现

分布式电网参数监测系统的设计

DFT测试方法之比较

微捷码向LogicVision提供ATPG技术授权