×
研发资源 > 标签 > 系统级芯片测试
|相关技术

利用EDA工具提高系统级芯片测试的效率

 发布时间：2020-05-20
高度复杂的SoC设计正面临着高可靠性.高质量.低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战.可测性设计通过提高电路的可测试性.从而保证芯片的高质量生产和制造.借助于EDA技术.可以实现可测试性设计的自动化. ...<全部>
  • 124
上一个 下一个
|最新活动
国产PCIe Retimer芯片！破解高速传输信号完整性难题

国产PCIe Retimer芯片！破解高速传输信号完整性难题
|相关标签
|热门文章
利用EDA工具提高系统级芯片测试的效率

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.