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直击4G产业链最困难部分-TD-LTE芯片测试

发布时间：2023-02-01

市场上有关TD-LTE的试商用已经如火如荼地开展起来.伴随着TD-LTE市场应用的不断发展.测试需求也在不断增加.测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链的重要组成部分.对于产品的性能.研发和产业化起到了关键的推动作用 ...<全部>

技术百科

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业界解密:IC测试为什么重要?

发布时间：2022-01-26

测试的目的自然是要把好坏芯片区分出来.把好的芯片送出去.确保质量不达标的坏芯片不会被送到客户那里去.很多公司往往习惯性地把实验室里系统验证的方法延伸到量产中去,用自搭电路系统去取代专业的测试机. ...<全部>

DSP系统

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芯片测试

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半导体厂商如何做芯片的出厂测试?

发布时间：2021-04-27

芯片测试的目的是快速了解它的体质.对大公司来说.这是需要几千名员工协作的工作.那么半导体厂商如何做芯片的出厂测试?本文将解答大家的疑惑. ...<全部>

DSP系统

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IC测试技术NAND Tree确认管脚连接问题

发布时间：2020-05-20

本文将浅谈基于NAND Tree的芯片测试技术.主要是测试芯片的管脚I/O Pin和芯片的PAD之间的连接问题.将NAND门接入PAD和上级的NAND门输出.观察该Pin的跳变情况.今天讲一个很简单也很常用的IC测试技术-NAND Tree.这 ...<全部>

测量仪器

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关于标准芯片单元可连通性测试影响因素有哪些

发布时间：2020-05-18

介绍了一种标准芯片单元可连通性的检测方法.可以有效检测标准芯片单元的可连通性.在布局布线阶段之前.改进标准单元的版图.或者增加布局布线的约束条件.从而保证标准芯片单元的设计对布局布线的友好性.通过对标 ...<全部>

测量仪器

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芯片测试

发布时间：2024-11-22

DFT是design for test的缩写.意为可测性设计.从广义上讲DFT包含两个范畴:一个是设计范畴.一个是测试模式生成(ATPG)范畴.设计范畴的DFT设计技术常用的有两种:扫描设计和内建自测试(BIST).扫描设计就是将普 ...<全部>

技术百科

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中芯国际宣布0.13微米3G手机芯片测试成功

发布时间：2024-11-22

近日.中芯国际生产.重庆重邮信科开发的第三代移动通信手机(3G手机)专用0.13微米芯片[通芯一号"又宣告测试成功.据了解.[通芯一号"具有我国完全自主知识产权.并且是世界上第一颗0.13微米工艺的TD-SCDMA3G手机核心 ...<全部>

技术百科

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芯片测试材料数字电视带热相关产业

发布时间：2024-11-22

04年3月底.中国国际广播电视信息网络展览会(CCBN)以及与CCBN同期举办的第二届中国国际信息网络材料与元器件展览会(IMC).在北京中国国际展览中心隆重举行.此次 ...<全部>

技术百科

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197

凌华科技基于NuDAQ卡的电话拨号芯片测试系统---可提供一个测试系统.对电话拨号芯

发布时间：2024-11-22

目的:提供一个测试系统.对电话拨号芯片进行电气.功能测试.解决方案:用PCI-7248配合外部电路对拨号芯片提供测试用电压.电流信号.以及模拟按键信号,用PCI-9112对芯片的响应信号进行采样.并加以评估.详细介绍 ...<全部>

技术百科

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芯片的出厂测试都是怎么操作的

发布时间：2024-11-22

先来说一下完整的测试流程.再针对题主的两个问题回答一下.一.芯片测试概述芯片测试分两个阶段.一个是 CP(Chip Probing)测试.也就是晶圆(Wafer)测试.另外一个是 FT(Final Test)测试.也就是把芯片 ...<全部>

嵌入式开发

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芯片测试

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