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太克(Tektronix)日前宣布推出为其DSA8300取样示波器全新的光学模块。 此模块具有业界最高的遮蔽测试灵敏度和最低的噪声，并配备了全新功能，可提升生产能力并改善当前100G设计投入生产的产量。 太克同时还推出了其400G测试解决方案的增强功能，包括IEEE以太网络标准驱动的发射器和分散眼闭锁(TDECQ)PAM4，以及针对光学测试的相关支持量测。
太克高效能示波器总经理Brian Reich表示，随着100G设计投入生产，制造产量就变得至关重要。 该公司最低的固有噪声可让用户对测试结果更有信心，从而提升光学组件和互联设备的制造产量。 在此同时该公司也利用全方位的工具和功能，在新一代数据传输中提供深入的分析和有效的除错功能，持续400G的发展趋势。
太克于加州洛杉矶所举行的OFC 光学网络和通讯研讨会展览上，展示了全新的模块和功能，以及全套Tektronix 100G/400G光学特性分析和验证解决方案。
当安装在DSA8300取样示波器中时，全新的80C17和80C18光学模块可提供 -14dBm的遮蔽测试灵敏度，超过28GBd PAM4标准的要求，同时提供业界最佳的3.9 µW噪声效能，并具有广泛的波长支持。 双信道80C18可让光学制造测试工程师能加倍提升传输量和容量。 若装置故障，该公司能提供分析工具来分解噪声和抖动的讯号内容，以协助工程师了解潜在的问题。
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