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解读FinFET存储器的设计挑战以及测试和修复方法

 发布时间：2021-08-12
同任何IP模块一样.存储器必须接受测试.但与很多别的IP模块不同.存储器测试不是简单的通过/失败检测.存储器通常都设计了能够用来应对制程缺陷的冗余行列.从而使片上系统(SoC)良率提高到90%或更高.相应地.由 ...<全部>
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