×
研发资源 > 标签 > STAR存储器
|相关技术

解读FinFET存储器的设计挑战以及测试和修复方法

 发布时间：2021-08-12
同任何IP模块一样.存储器必须接受测试.但与很多别的IP模块不同.存储器测试不是简单的通过/失败检测.存储器通常都设计了能够用来应对制程缺陷的冗余行列.从而使片上系统(SoC)良率提高到90%或更高.相应地.由 ...<全部>
  • 26
上一个 下一个
|最新活动
Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元

Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元
|相关标签
|热门文章
解读FinFET存储器的设计挑战以及测试和修复方法

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.