缺陷-EDA365

研发资源 > 标签 > 缺陷

|相关技术

查看更多 >>

如何评量漏洞解决方案效能的降低程度?

发布时间：2024-09-24

自从 1 月 Google Project Zero 团队揭露 Intel CPU 的 Meltdown 缺陷.以及所有现代 CPU 都有的 Spectre 缺陷以后.影响面之广人人自危.由于是硬件缺陷.各大厂商也只能努力推出修补更新加以弥补.几个月过去了. ...<全部>

技术百科

|

172

LED芯片/器件封装缺陷的非接触检测技术

发布时间：2021-12-15

摘要:为了在大批量封装生产线上对LED的封装质量进行实时检测.利用LED具有与PD类似的光伏效应的特点.导出了LED芯片/器件封装质量与光生电流之间的关系.并根据LED封装工艺过程的特点.研制了LED封装质量非接触检测 ...<全部>

显示技术

|

145

DLP拼接屏的技术缺陷

发布时间：2020-11-03

DLP拼接大屏作为大屏拼接领域的主力军.一直被广泛应用于多个领域.而且.随着技术的日渐完善以及人们大屏幕视觉需求的火热.其应用范围更加宽泛.应用环境也更加广泛.随着而来的选购维护问题也更加复杂.其实大屏 ...<全部>

显示技术

|

67

LED照明产品检测中的缺陷及改善

发布时间：2020-10-27

一. 序言LED照明产业发展到现在,我们对LED照明产品标准和检测方法的回顾.小结的时候已经基本到来.传统的LED及其模块光.色.电参数检测方法 ...<全部>

显示技术

|

95

LED芯片封装缺陷检测方案

发布时间：2020-08-20

LED(Light-emitting diode)由于寿命长.能耗低等优点被广泛地应用于指示.显示等领域.可靠性.稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素.封装工艺是影响LED功能作用的主要因素之一.封装工艺关键工序 ...<全部>

显示技术

|

188

光致发光技术在检测晶体Si太阳电池缺陷的应用

发布时间：2020-07-23

引言近年来.光伏产业发展迅猛.提高效率和降低成本成为整个行业的目标.在晶体Si太阳电池的薄片化发展过程中.出现了许多严重的问题.如碎片.电池片隐裂.表面污染.电极不良等.正是这些缺陷限制了电池的光电转化 ...<全部>

显示技术

|

188

基于LED芯片封装缺陷检测方法研究

发布时间：2020-07-23

摘要:LED(Light-emitting diode)由于寿命长.能耗低等优点被广泛地应用于指示.显示等领域.可靠性.稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素.LED(Light-emitting diode)由于寿命长.能耗低等优点被 ...<全部>

显示技术

|

183

查找嵌入式软件设计中的缺陷的方法

发布时间：2020-07-08

本文将介绍如何避免那些隐蔽然而常见的错误.并介绍的几个技巧帮助工程师发现软件中隐藏的错误.大部分软件开发项目依靠结合代码检查.结构测试和功能测试来识别软件缺陷.尽管这些传统技术非常重要.而且能发现大多 ...<全部>

嵌入式开发

|

142

巧妙查找嵌入式软件设计中的缺陷

发布时间：2020-07-03

本文将介绍如何避免那些隐蔽然而常见的错误.并介绍的几个技巧帮助工程师发现软件中隐藏的错误.大部分软件开发项目依靠结合代码检查.结构测试和功能测试来识别软件缺陷.尽管这些传统技术非常重要.而且能发现大多 ...<全部>

嵌入式开发

|

162

嵌入式软件技术的缺陷查找方法介绍

发布时间：2020-07-01

本文将介绍如何避免那些隐蔽然而常见的错误.并介绍的几个技巧帮助工程师发现软件中隐藏的错误.大部分软件开发项目依靠结合代码检查.结构测试和功能测试来识别软件缺陷.尽管这些传统技术非常重要.而且能发现大多 ...<全部>

嵌入式开发

|

55

上一个下一个

支持PCIe 6.0！国产时钟芯片的创新发展史

支持PCIe 6.0！国产时钟芯片的创新发展史

|相关标签

|热门文章

电气设备查故障.那些你不知道的事!

新款智能手表存缺陷

LED芯片封装缺陷检测方案

如何查找嵌入式软件设计中的缺陷

查找嵌入式C语言程序/软件中的缺陷的多种技术