1948 年，J．Bardeen 和W．Brattain 在Phys． Rev．上发表“The Transistor， A　Semiconductor Triode”，宣告晶体管问世；1949 年，W．Shockley 在 Bell Syst. Tech 杂志上发表“The Theory of p-n Junction in Semiconductor and p-n Junction　Transistor”，宣告比点接触型更加实用的结型晶体管问世；其后便踏上批量生产和扩大应用的路程。虽然晶体管具有电子管不可比拟的优点，但是竞争之路也并不平坦。当时电子管已十分成熟，又经过小型化，体积缩小之后，功耗降低，掉在地上也不易摔破，因此，晶体管的体积小、功耗低、耐冲击的优点并不绝对占优。相反，电子管的低噪声，耐高压的性质却远优于晶体管。再加上当时晶体管制作的工艺水平不高，不要说点接触型，即使是结型晶体管也还是合金结，只能“单件”制作，效率低下，售价比电子管还高。因此要在与电子管的竞争中取胜，晶体管还需另辟蹊径。

　　晶体管果然选择了一个正确的发展方向，即充分发挥自己具有的、而电子管不可能具有的优点，那就是：不用灯丝，无需“容器”，因此，可以成批制作。晶体管选定的这个发展方向奠定了在竞争中的胜局。

　　尽管当时电子管生产线的机械化水平已经很高，玻壳、灯丝、电极都是机械制作，甚至组装和抽真空等也都是机械操作，但它改变不了的就是只能“单件”生产。有一个说法有些道理，“再复杂的套色标签都可以整版印刷，而再简单的标签也只能‘单张’粘贴”。电子管的制程就是只能“单件”制作。晶体管的发展走的是“整版印刷”之路。

　　在晶体管的发展过程中，硅材料的选择当属最重要的一步。其实，在晶体管发明之前，科学家就知道硅比锗更适于作为晶体管的材料，只是因为硅的提纯困难，当时硅材料的纯度还不够高，因此先在锗材料上完成了晶体管的发明。不过当时各公司、实验室都有硅的研究计划。第一个硅晶体管是B．E．Deal 在TI 制成的。在1954 年的一次会议上，比较权威的看法是制作硅晶体管还需要几年的时间。可是就在这个会上，Deal 不仅宣布了硅晶体管的诞生，而且还装成收音机，与锗管机一起浸入热水中。因为硅有更大的带隙，所以高温下硅管机仍能收音，锗管则难耐高温而停止工作。

　　1950 年，R．N．Hall 和W．C．Dunlap 在Phys．Rev．上发表了“ p-n Junction Prepared　by Impurity Diffusion”，为晶体管的制作提出了重要的方法——扩散掺杂。很可惜，这篇文章说的只是在合金之后的杂质扩散，仍然是“单件”操作，不能解决“整版印刷”的问题。

　　从1956 年M．Tanenbaum 和D．E．Thomas 在Bell Syst. Tech 杂志上发表“Diffused Emitter　and Base Silicon Transistor”，到 1960 年J．A．Hoerni 在 IRE Electron Devices Meet．上发表“Planar Silicon Transistor and Diodes”，宣告完成硅平面工艺的发明。至此，制作晶体管的管芯已经可以用“整版印刷”的方式，所有工序都是在整个wafer（晶圆）上进行。

　　这样的制程不仅生产效率高，而且管芯的一致性好，为晶体管赢得了市场，同时也为IC 发明准备了条件。

　　在硅平面工艺中，应该说二氧化硅（SiO2）帮了硅（Si）的大忙，确立了硅在IC 材料中的绝对优势地位。

　　Si 上易于生长SiO2 薄膜。这层SiO2 薄膜很重要，不仅可以用作器件的电学绝缘、表面保护，还可以在晶体管的制作过程中，用来阻挡杂质向Si 内扩散。再加上SiO2 薄膜易于刻蚀图形，这样就可以在Si 上实现选择区域的扩散掺杂：先在n 型Si 的一些区域做p 型扩散，形成基区（Base），再在这些基区中做n 型扩散，形成发射区（Emitter），于是同时完成了多个n-p-n 晶体管的制作，如同是“整版印刷”一样，以SiO2 作为“套色掩膜”。

　　在晶体管的平面工艺制程中，一定要有一道工序把Si 上的SiO2 薄膜刻出所需要的图案，这就是从套色印刷技术中学来的光刻技术（Lithography & Etching）。光刻工艺包括“光”和“刻”两步工序。“光”，完成图形转移：把对晶体管收集区、基区、发射区等区域设计的一套图形，依次转移到Si 片上；“刻”，完成刻蚀：在SiO2 等薄膜上刻蚀成图案。当然，半导体光刻工艺的精度，已经远远高于套色印刷，从初期的微米级10μm、5μm、3μm、2μm、1.5μm、1.0μm，到后来的亚微米0.8μm、0.5μm，深亚微米0.35μm、0.25μm、0.18μm、0.15μm、0.13μm，再到最近的超深亚微米，也称纳米级，90nm、65nm、45nm，和即将的32nm、22nm，光刻工艺的精度已经成为晶体管、IC 制作精度的标志。

　　硅平面工艺中外延（epitaxical）技术的发明很有创意，它解决了在重掺杂Si 片上形成轻掺杂层的难题。

　　一般认为，之所以称为半导体，是因为它的电导率低于导体，高于绝缘体，恰逢其半。

　　这只是对于高纯度的材料而言，实际上掺入杂质的半导体才有更意义。半导体的导电类型和导电能力完全由掺入的杂质决定，以Si 为例：掺入Ⅲ族元素（例如硼）成为p 型硅，掺入Ⅴ族元素（例如磷、砷）成为n 型硅；重掺杂（n＋、p＋）硅比轻掺杂（n－、p－）硅有更好的导电性能。晶体管的制作正是通过不同的掺杂改变Si 的导电类型而形成p-n 结的。但是这个过程一定是用更重的掺杂改变较轻掺杂的导电类型，不可逆反，也就是只能把n－变成p，再把p 变成n＋。因此，晶体管的集电区（C 区）就只能是n－。

　　但是n－的电阻率要比n＋高1000 倍，而晶体管的大部分电流又都要由C 极通过，因此势必造成很大的电压降和热功耗，降低了晶体管的品质。如果能有一个n＋层与n－的C 区并联，将是再好不过了，很可惜，通过掺杂的方法是不能把n＋变成n－的。

　　外延工艺是沿着n＋Si 的晶格再长出一层Si，其中少做掺杂，成为n＋Si 上的n－外延层，既为制作晶体管提供了n－的C 区，又有低阻的n＋衬底作为并联，两全其美。外延技术不仅是平面工艺的重要工序，还是化合物半导体材料制备的重要方法，这是题外的话。

　　硅还有一个很好的性质，就是重掺杂硅，无论是n＋还是p＋，都能与铝形成欧姆接触。这个性质太重要了，欧姆接触相当于“焊锡”，是晶体管与外界电学连接、IC 内部电学互连的必由之路。这么容易便可实现欧姆接触，又为硅成为制作IC 的材料增加一大优点，真好像“硅有天助”。

　　平面工艺是氧化、光刻、扩散掺杂，外延等一套硅基工艺的组合，它的一个最重要的性质是可以把BJT（双极结型晶体管——Bipolar Junction Transistor）的E、B、C 三个电极（以及后来MOSFET 的D、G、S、B 四个电极）都在同一平面上引出。这个性质是实现IC的根本保证，其中欧姆接触起了重要作用。如果不是这样，BJT 的C 极只能从硅片的背面引出，那么无论如何也不可能在同一硅片上实现晶体管之间的电学连接，IC 也就无从谈起。

　　因此，为晶体管实现批量制作而发明的平面工艺，也是为IC 发明做的最好的前期准备。