×
研发资源 > 标签 > 内存测试
|相关技术

嵌入式测试方案及高速测试技术

 发布时间：2020-06-13
前言 目前.在许多应用领域.例如处理器.移动电话.调制解调器等产品.SOC技术已经成为主要的研究方向.这类SOC芯片整合了数字逻辑电路.模拟电路.内存模块以及知识产权(IP)核.甚至将微处理器.外围接口.通 ...<全部>
  • 123

厚翼内存测试电路开发环境 BRAINS 协助打造AI 芯片最佳利器

 发布时间：2020-05-30
人工智能(Artificial Intelligence, AI))话题不断在全球掀起讨论.各种相关的应用与演算需求因大数据.机器学习与人工智能等对效能的要求也越来越高.连带拉升了对记忆的需求.而 AI 相关的芯片设计.需要处理更多 ...<全部>
  • 170

武汉飞思灵微电子采用芯测科技START内存测试与修复电路开发环境

 发布时间：2024-11-05
深耕于开发内存测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek.简称iSTART).宣布武汉飞思灵微电子采用芯测科技START™内存测试与修复整合性电路开发环境于芯片设计中. ...<全部>
  • 80
上一个 下一个
|最新活动
Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元

Ecosmos携手第二十六届高交会，开启元宇宙展会新纪元
|相关标签
|热门文章
嵌入式测试方案及高速测试技术

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.