内存测试-EDA365

研发资源 > 标签 > 内存测试

|相关技术

嵌入式测试方案及高速测试技术

发布时间：2020-06-13

前言目前.在许多应用领域.例如处理器.移动电话.调制解调器等产品.SOC技术已经成为主要的研究方向.这类SOC芯片整合了数字逻辑电路.模拟电路.内存模块以及知识产权(IP)核.甚至将微处理器.外围接口.通 ...<全部>

技术百科

|

123

厚翼内存测试电路开发环境 BRAINS 协助打造AI 芯片最佳利器

发布时间：2020-05-30

人工智能(Artificial Intelligence, AI))话题不断在全球掀起讨论.各种相关的应用与演算需求因大数据.机器学习与人工智能等对效能的要求也越来越高.连带拉升了对记忆的需求.而 AI 相关的芯片设计.需要处理更多 ...<全部>

半导体生产

|

170

武汉飞思灵微电子采用芯测科技START内存测试与修复电路开发环境

发布时间：2024-11-22

深耕于开发内存测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek.简称iSTART).宣布武汉飞思灵微电子采用芯测科技START™内存测试与修复整合性电路开发环境于芯片设计中. ...<全部>

嵌入式开发

|

80

上一个下一个

第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场

第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场

|相关标签

|热门文章

芯测科技成功举办科技培训课程

联阳半导体采用芯测科技iSTART内存测试与修复整合性电路开发环境

芯测科技NVM IP測試與修復方案

厚翼内存测试电路开发环境 BRAINS 协助打造AI 芯片最佳利器

南京邮电大学南通研究院芯测科技生产合作共同培育人才