良率-EDA365

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利用缝隙抑制型钨填充接触区工艺来降低良率损失

发布时间：2021-01-27

作者:应用材料公司金属沉积产品事业部接触和中段产品线全球经理Jonathan Bakke在早先的技术节点中.由于器件尺寸较大.能采用成核及平整化化学气相沉积(CVD)技术进行钨(W)填充.如今.由于插塞处的超小开口很容易发 ...<全部>

接口

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售价过于昂贵 OLED电视商机变数仍多

发布时间：2020-05-21

有机发光二极体(OLED)电视由于面板良率过低以及整体造价不菲等问题.其未来商机仍充满变数.在韩国显示器大厂乐金(LG)发表厚薄度仅4毫米(mm).重7.5公斤的55吋OLED电视后.液晶电视新一波商机能否再次起飞备受市场关 ...<全部>

显示技术

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如何快速提高产品良率

发布时间：2024-11-23

摘要:现在的良率(yield)管理方法可以比过去达到更高的良率水平以及更快地实现稳定的生产.将来新的管理方法一定能够达到更高的水平.而且成本更低.现在的半导体制造要求比过去任何时候都要高.为了满足市场的需 ...<全部>

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良率

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LogicVision为台联华的客户提供强化晶圆良率解决方案

发布时间：2024-11-23

集成电路嵌入式良率强化解决方案供应商LogicVision日前宣布.该公司已同台联电(UMC)携手.以便使该芯片代工厂商的客户可以利用其晶圆良率解决方案.LogicVision专 ...<全部>

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晶圆
良率

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Ibis助力加工更光滑SOI晶圆提高半导体芯片良率

发布时间：2024-11-23

为制造绝缘硅(SOI)晶圆提供植入机(implanter)的Ibis Technology公司日前表示.采用其设备制造的晶圆表粗糙度有可能更容易检测.并提高在这些晶圆上加工出来的半导体芯片良率. Ibis声称已改良了晶圆的顶部表面和顶部 ...<全部>

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独特的设置援助软件全面提升SMT制造的效率和良率

发布时间：2024-11-23

元件贴装设备的正确设置是生产过程的重要一步.也是零缺陷制造的关键所在.SVS Pro不仅能够协助操作者校验送料器设置.还可以启动元件补充的准备工作.支持整个物 ...<全部>

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良率

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设计缺陷影响IC良率良率信息需反馈到设计流程

发布时间：2024-11-23

业内专家日前在国际测试大会(ITC)上表示.潜藏的设计缺陷正日益象工艺问题一样多地决定着芯片良率(yields). 明导科技(Mentor Graphics)首席科学家Bernd Koeneman ...<全部>

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IC
良率

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初创公司推良率分析服务.吸引ASIC供应商

发布时间：2024-11-23

可制造性设计(DFM)技术供应商Ponte Solutions公司与设计服务提供商Time To Market公司(TTM)日前推出了据称是行业首个的新型良率分析和增强服务模 ...<全部>

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IC
良率

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突破良率瓶颈中芯国际12英寸晶圆厂量产

发布时间：2024-11-23

中芯国际(SMIC)日前宣布.该公司位于北京的12英寸晶圆厂为英飞凌(Infineon)代工的0.11微米沟槽式工艺DRAM.以及为尔必达(Elpida)代工的0.11微米堆栈式工艺DRAM等 ...<全部>

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初创公司欲将统计良率建模引入IC设计流程

发布时间：2024-11-23

初创公司Ponte Solutions日前宣布.将致力于把统计良率模型(statistical yield modeling)引入到IC设计流程内.该公司旨在解决恼人的可制造性设计 ...<全部>

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IC
良率

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